维度光电光束质量测量解决方案基于两大技术平台: 扫描狭缝式系统:采用正交狭缝转动轮结构,通过 ±90° 旋转实现 XY 轴同步扫描,结合刀口 / 狭缝双模式切换,突破亚微米级光斑检测极限。光学系统集成高灵敏度光电探测器,配合高斯拟合算法,实现 0.1μm 分辨率与 ±0.8% 测量重复性。 相机式成像系统:搭载背照式 CMOS 传感器(量子效率 95%@500-1000nm),结合非球面透镜组消除畸变,支持皮秒级触发同步与全局快门技术,捕捉单脉冲光斑形态。算法通过二阶矩法计算 M² 因子,测量精度达 ±0.3%。 创新突破: 狭缝物理衰减机制实现 10W 级激光直接测量 面阵传感器动态范围扩展技术支持 1μW-1W 宽功率检测 AI 缺陷诊断模型自动识别光斑异常(率 97.2%)
使用维度光电BeamHere 光斑分析仪开展光斑与光束质量测量的流程 系统搭建:将 BeamHere 相机式光斑分析仪的传感器置于激光束路径,通过支架调节位置确保光斑完整覆盖 sensor。使用 USB 3.0 数据线连接设备与电脑,安装 BeamHere V3.2 软件并完成驱动校准。 数据采集:开启半导体激光器至稳定输出状态,软件选择 "连续采集" 模式,设置曝光时间 50μs,帧率 100fps,同步触发激光器确保单脉冲捕捉。 参数提取:软件自动识别光斑区域,计算 FWHM 直径(XY 轴)、椭圆率、能量集中度等 12 项基础参数,同时基于 ISO 11146 标准算法生成 M² 因子、瑞利长度等光束质量指标。 可视化分析:切换至 3D 视图旋转观察能量分布,通过 "刀边法" 验证光斑对称性,标记异常区域进行局部放大分析。 报告输出:点击 "生成报告" 按钮,自动插入测试日期、激光器参数、测量曲线等内容,支持 PDF/A4 排版或自定义 LOGO 导出。

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