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上海热成像校准系统作用 客户至上 上海明策供应

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所在地: 上海市
***更新: 2025-02-10 02:03:04
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产品详细说明

TCB黑体有一系列版本供用户选择使用。有两个重要参数指标:黑体发射面的大小和温度范围。发射面尺寸由黑体代码:TCB-XD表示,其中X是发射面平方的近似尺寸,单位为英寸。通常提供以下型号:TCB-2D,TCB-4D,TCB-6D,TCB-8D,TCB-12D,TCB-14D,TCB-2OD。在标准版本中,这些黑体温度范围从0℃至100℃进行了优化。用于典型温度范围为0℃至100℃的小型50x50mm发射面的TCB-2D黑体被用作测试热像仪的DT/MS系统的模块。具有更大发射面和其他温度范围的黑体都可以作为其他各种应用的单独模块提供。Inframet可以提供高达500x500mm的发射面的TCB黑体(型号TCB-2OD)。但是,应该注意的是,典型的小黑体TCB-2D/TCB-4D黑体与TCB-12D/TCB-2OD之间存在很大差异。后者的黑体要大得多,需要更大的功率,升温更慢,更昂贵。因此建议您选择自己合适的发射面尺寸即可。


智能校准, INFRAMET SIM 热成像光电测试系统基数参数准确无误,守护每一份安宁!上海热成像校准系统作用

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InframetMTB面源黑体有优异的温度分辨率,时间稳定性,很高的温度均匀性和优异的温度精度。所有这些功能使MTB系列黑体作为国家标准实验室或工业实验室温度标准的理想选择。

高分辨率的温度调节(0.01ºC,优于市场上其他的黑体,通常这些黑体分辨率为0.1ºC);非常好的时间稳定性(0.1ºC,优于市场上提供的其他黑体,通常为0.5ºC);良好的温度均匀性(1ºC@125ºC,市场上其他黑体通常为3ºC@300x300mm);所有的MTB黑体都由PC使用先进的温度稳定算法进行控制。 上海热成像校准系统厂家热成像新标准,基数参数精细调校,夜视效果超乎期待!

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ORI光学镜头测试系统是一台通用型光学镜头测试系统。该系统可以测量镜头的所有重要参数:MTF,分辨率,EFL,畸变,渐晕,透过率,BFL,工作焦距,焦深,场曲,色差等。可测试波段涵盖了VIS,NIR,SWIR,MWIR和LWIR,也可用于测试多波段光学系统,列如VIS-SWIR和MWIR-LWIR。系统原理ORI测试系统原理:目标发生器放置在被测镜头的焦平面上形成一套投影系统,透射出的平行光入射平行光管,蕞终成像到相机的接收面上。ORI测试系统蕞大的特点是采用逆光路测量原理,较一般正光路的测量系统具有独特的优势。

MRW-8电动靶轮是用于测试EO成像系统的模块之一,能够在平行光管的焦平面上自动交换有效靶标,采用8孔靶轮(支持其他靶孔数量),其表面涂有黑色高发射率涂层(发射率至少为0.97),一侧连接到CDT平行光管,另一侧连接到辐射源(TCB黑体、DCB多色黑体、DAL/SAL光源)。标准旋转靶轮的定位不确定度低于0.15mm,还可定制不确定度为0.05mm的靶轮。MRW-8提供多种版本。主要标准是:控制方法、定位精度、圆孔数量。型号中的三个字母用于描述MRW-8靶轮的版本。MRW-8BBB:通过外部控制器使用PC软件控制,有8个圆孔。夜视新突破,INFRAMET SAFT 热成像光电测试系统,基数参数优化,细节尽在掌握!

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JT400轴对准测试系统外观图Inframet设计生产的用于测试多传感器监控系统的MS系列测试系统不仅支持这些监控系统的扩展性测试,也支持轴对准测试。然而,MS系列测试系统是相对昂贵镐端的测试系统。

JT多传感器轴对准测试系统是相对经济的系统,用于**的轴对准测试以及光电多传感器监控系统的基本参数测试。测试功能:1.不同视场的热像仪的轴对准;2.不同镜头焦距的可见光-近红外相机的轴对准;3.可见光-近红外相机与热像仪之间的轴对准;4.激光测距机与可见光-近红外相机之间的轴对准;5.激光测距机与热像仪之间的轴对准;6.激光指示器与可见光/近红外相机以及热像仪之间的轴对准;7.可见光/近红外相机的分辨率/灵敏度;8.热像仪的分辨率;9.激光测距机的发散角;10.参考光轴与参考机械轴(平面)的对准误差。 热成像新标准,基数参数精细调校,让夜间监控成为您的安全之眼!上海热成像校准系统作用

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IR FPA 传感器(焦平面阵列传感器)指的是对红外光敏感的探测器阵列,这些探测器在位于红外光学镜头焦平面时,能够生成二维电子图像。具体来说,市场上提供的 IR FPA 传感器是通过将红外探测器阵列(即原始 IR FPA 传感器)与读取电子系统结合而成的。

FAPA是一个模块化系统,由一系列模块组成,可以配置为创建一系列不同的子系统,用于测量不同参数组。然而,FAPA的所有模块基本上可以分为三类(块):1.放射性测量工具,2.传感器控制/图像处理工具,3.图像采集/计算工具。 上海热成像校准系统作用

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