在激光应用领域,高功率光束检测一直是个难题。传统面阵传感器十分灵敏,在每平方厘米约 10μW 的功率水平下就会饱和,常规激光器功率远超此强度,不衰减光束不仅无法测量光斑信息,还可能损坏设备。维度光电为此推出 BeamHere 光斑分析仪系列及适配的高功率光束取样系统。其扫描狭缝式光斑分析仪采用创新的狭缝物理衰减机制,可直接测量近 10W 的高功率激光,无需额外衰减片。在此基础上,还推出单次取样与双次取样两款衰减配件,可组装叠加形成多次取样系统。与合适衰减片搭配,可测功率超 1000W。单次取样配件型号 DL - LBA - 1,45° 倾斜设计,取样率 4% - 5%,有 C 口安装方式和锁紧环结构,能测量任意角度入射激光;双次取样配件型号 DL - LBA - 2,内部紧凑安装两片取样透镜,取样率 0.16% - 0.25%,可应对 400W 功率光束,多面体结构有多个支撑安装孔位。组合安装配件可进一步衰减更高功率激光,大衰减程度达 10⁻⁸。而且其紧凑结构的取样光程能满足聚焦光斑测量需求,单次取样 68mm,双次取样 53mm,为各类激光应用场景的检测提供了方案。
Dimension-Labs 扫描狭缝式光斑分析仪系列以国内的刀口 / 狭缝双模式切换技术为,覆盖 190-2700nm 全光谱,可测 2.5μm 至 10mm 光束直径。其 0.1μm 超高分辨率突破传统设备极限,捕捉亚微米级光斑细节。 技术优势: 双模式智能适配:软件自主切换刀口 / 狭缝模式,解决 < 20μm 极小光斑与 10mm 大光斑的测量难题 高功率安全检测:创新狭缝物理衰减机制,无需外置衰减片即可直接测量近 10W 激光 超分辨率成像:基于狭缝扫描原理,完整还原光斑能量分布,避免特征丢失 设备内置正交狭缝转动轮,通过旋转扫描同步采集 XY 轴数据,经算法处理输出 20 + 光束参数。紧凑模块化设计适配工业与实验室场景,通过 CE/FCC 认证,在 - 40℃至 85℃环境稳定工作,应用于激光加工、医疗设备及科研领域,助力客户提升检测精度与效率。

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