[VIP第1年] 指数:3
维度光电光束质量测量解决方案基于两大技术平台： 扫描狭缝式系统：采用正交狭缝转动轮结构，通过 ±90° 旋转实现 XY 轴同步扫描，结合刀口 / 狭缝双模式切换，突破亚微米级光斑检测极限。光学系统集成高灵敏度光电探测器，配合高斯拟合算法，实现 0.1μm 分辨率与 ±0.8% 测量重复性。 相机式成像系统：搭载背照式 CMOS 传感器（量子效率 95%@500-1000nm），结合非球面透镜组消除畸变，支持皮秒级触发同步与全局快门技术，捕捉单脉冲光斑形态。算法通过二阶矩法计算 M² 因子，测量精度达 ±0.3%。 创新突破： 狭缝物理衰减机制实现 10W 级激光直接测量 面阵传感器动态范围扩展技术支持 1μW-1W 宽功率检测 AI 缺陷诊断模型自动识别光斑异常（率 97.2%）
维度光电深刻认识到高功率光束检测在激光应用中的性和难度。大多数光斑分析仪使用的面阵传感器在**功率下就会饱和，而常规激光器功率普遍较高，这使得大功率光束检测成为激光应用的难点。为解决这一问题，维度光电推出 BeamHere 光斑分析仪系列和大功率光束取样系统。扫描狭缝式光斑分析仪凭借创新的狭缝物理衰减机制，可直接测量近 10W 高功率激光，保障了测试过程的安全与高效。为应对更高功率，又推出单次和双次取样配件，可叠加使用形成多次取样系统。搭配合适衰减片，可测功率超 1000W。单次取样配件 DL - LBA - 1，取样率 4% - 5%，采用 45° 倾斜设计和 C 口安装，有锁紧环可固定在任意方向测量不同角度入射激光；双次取样配件 DL - LBA - 2，取样率 0.16% - 0.25%，内部两片取样透镜紧凑安装，能应对 400W 功率光束，多面体结构便于工业或实验环境安装。组合安装配件可获得高衰减程度，实现更高功率激光测量。同时，其紧凑结构设计的取样光程满足聚焦光斑测量，单次 68mm，双次 53mm，为激光生产提供了强大的检测支持。
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