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X射线衍射（XRD）和反射率是对薄层结构样品进行无损表征的重要方法。D8DISCOVER和DIFFRAC.SUITE软件将有助于您使用常见的XRD方法轻松进行薄膜分析：掠入射衍射（GID）：晶相表面灵敏识别及结构性质测定，包括微晶尺寸和应变。X射线反射率测量（XRR）：用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。高分辨率X射线衍射（HRXRD）：用于分析外延生长结构：层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。应力和织构（择优取向）分析。使用DIFFRAC.EVA,测定小区域结构特性。通过积分2D图像，进行1D扫描，来进行定性相分析和微观结构分析。上海点阵参数精确测量XRD衍射仪检测
在催化剂研究领域，XRD 衍射仪的应用不断取得新突破。催化剂的晶体结构和物相组成对其催化性能起着决定性作用。XRD 衍射仪可用于分析催化剂前驱体的晶相，精确控制合成过程，确保获得具有理想晶体结构的催化剂。在催化剂使用过程中，通过 XRD 衍射仪监测其结构变化，能够深入了解催化剂的失活机制。例如，当催化剂表面发生积碳或金属颗粒烧结时，XRD 图谱会呈现出特征性变化，科研人员据此调整反应条件或改进催化剂制备工艺，延长催化剂使用寿命，提高催化效率。随着原位 XRD 技术的发展，能够在催化反应条件下实时监测催化剂结构演变，为开发新型高效催化剂提供了全新视角，推动催化领域研究迈向新高度 。上海点阵参数精确测量XRD衍射仪检测无论面对何种应用，DIFFRAC.DAVINCI都会指引用户选择较好的仪器配置。
粉煤灰中晶态矿相及非晶相定量分析引言粉煤灰，是从煤燃烧后的烟气中收捕下来的细灰，粉煤灰是燃煤电厂排出的主要固体废物。粉煤灰是我国当前排量较大的工业废渣之一。大量的粉煤灰不加处理，就会产生扬尘，污染大气；若排入水系会造成河流淤塞，而其中的有毒化学物质还会对人体和生物造成危害。所以，粉煤灰的再利用一直都是关注的热点。比如，已用于制水泥及制各种轻质建材等。要合理高效的利用粉煤灰，则需要对其元素和矿相组成有详细的了解。粉煤灰的矿相主要莫来石、石英以及大量的非晶态。利用XRD测定非晶态通常采用加入特定含量的标准物质以精确的计算非晶相物质的含量。在实验室中这个方法是可行的，但在实际生产和快速检测过程中，这个方法就现实。目前一种全新的PONKS（PartialOrNoKnowCrystalStructure）方法*，解决了这一难题，实现了粉煤灰样品的无标样定量分析。
对于需要探索材料极限的工业金属样品，通常需要进行残余应力和织构测量。通过消除样品表面的拉应力或引起压应力，可延长其功能寿命。这可通过热处理或喷丸处理等物理工艺来完成。构成块状样品的微晶的取向，决定了裂纹的生长方式。而通过在材料中形成特定的织构，可显着增强其特性。这两种技术在优化制造法（例如增材制造）领域也占有一席之地。由于具有出色的适应能力，使用D8ADVANCE，您就可对所有类型的样品进行测量：从液体到粉末、从薄膜到固体块状物。在DIFFRAC.LEPTOS中，对多层样品进行XRR分析，测定其薄膜厚度、晶格失配和混合晶体浓度。
制剂中微量API的晶型检测引言药物制剂生产过程中除需添加各种辅料外，往往还需要经过溶解、研磨、干燥(温度)、压片等工艺过程，在此过程中API的晶型有可能发生改变，进而可能影响到药物的疗效。国内外FDA规定多晶型药物在研制、生产、贮存过程中必须保证其晶型的一致性，固体制剂中使用的晶型物质应该与API晶型一致。因此药物制剂中的晶型分析是非常重要的。由于辅料的存在对药物制剂中API的晶型分析增加了干扰，特别是API含量非常少的制剂样品，检测更加困难。XRPD是API晶型分析的有效手段之一，配合高性能的先进检测器，为制剂中微量API的晶型检测提供了有利工具。候选材料鉴别（PMI） 为常见，这是因为对其原子结构十分灵敏，而这无法通过元素分析技术实现。上海全新XRD衍射仪配件
从过程开发到质量控制，D8 DISCOVER可以对亚毫米至300mm大小的样品进行结构表征。上海点阵参数精确测量XRD衍射仪检测
在纳米材料研究领域，XRD 衍射仪展现出无可替代的独特优势。纳米材料因其尺寸效应和量子限域效应，具有与传统材料截然不同的物理化学性质。XRD 衍射仪能够精确测定纳米材料的晶体结构，即便纳米颗粒尺寸极小，也可通过其衍射图谱获取晶格参数、晶胞结构等关键信息。与其他表征手段相比，XRD 衍射仪不受纳米材料表面状态影响，可深入探测材料内部晶体结构。通过分析衍射峰的宽化程度，利用谢乐公式还能准确估算纳米颗粒的平均粒径，误差范围极小。在研究纳米复合材料时，XRD 衍射仪可清晰区分不同相的衍射峰，确定各相在复合材料中的比例与分布，为纳米材料的合成、性能优化以及实际应用提供坚实的理论依据，助力科研人员开发出性能出色的纳米材料 。上海点阵参数精确测量XRD衍射仪检测
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